On-chip picosecond time measurement
On-chip picosecond time measurement
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片上皮秒时间测量
DOI：
10.1109/vlsic.2000.852849
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发表时间：
2000
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Chandrakasan
中科院分区：
文献类型：
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作者：
V. Gutnik;A. Chandrakasan
闪光时间到数字转换器(TDC)可以在没有精确输入信号的情况下被校准到仲裁器口径数量级的精度。推导了可用于噪声限制仲裁器阵列校准的理论结果，并进行了实验验证。采用仲裁的0.35/SPL MU/m工艺的测试芯片，时间分辨率优于2皮秒。
A flash Time to Digital Converter (TDC) can be calibrated to a precision on the order of the arbiter aperature without precise input signals. A theoretical result useful for calibration of a noise-limited arbiter array is derived, and verified empirically. A test chip with 64 arbiters in a 0.35 /spl mu/m CMOS process shows temporal resolution better than 2 picoseconds.