Point defects along metallic atomic wires on vicinal Si surfaces: Si(557)–Au and Si(553)–Au
Point defects along metallic atomic wires on vicinal Si surfaces: Si(557)–Au and Si(553)–Au
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邻位 Si 表面上沿金属原子线的点缺陷：Si(557)–Au 和 Si(553)–Au
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Yeom
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Kang;Jin Sung Shin;H. Yeom
