Escape rate from the zero-voltage state in the intrinsic Josephson junctions of Bi_2Sr_2CaCu_2O_y
Escape rate from the zero-voltage state in the intrinsic Josephson junctions of Bi_2Sr_2CaCu_2O_y
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Bi_2Sr_2CaCu_2O_y 本征约瑟夫森结的零电压状态逃逸率
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K.Ota et al.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
H.Kitano et al.;T.Ohashi et al.;H.Kitano et al.;K.Ota et al.
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S. Saito;Michael Thorwart;Hirotaka Tanaka;Masahito Ueda;Masahito Ueda;H. Nakano;K. Semba;Hideaki Takayanagi
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DOI：
--
发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
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通讯作者：
S. Sakai
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DOI：
10.1103/physrevb.46.9035
发表时间：
1992
期刊：
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影响因子：
--
作者：
Chen
通讯作者：
Chen
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DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Physical Review Letters 95
影响因子：
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作者：
T.Kondo 他;Yasuyuki Yamada 他;H.Li 他;K.Inomata 他
通讯作者：
K.Inomata 他