Total Dose Test Results for CubeSat Electronics

Total Dose Test Results for CubeSat Electronics
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CubeSat 电子设备的总剂量测试结果

DOI：
10.1109/redw.2010.6062504
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发表时间：
2010
期刊：
2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop
影响因子：
--
通讯作者：
D. Alexander
D. Alexander
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
K. Avery;Jeffery Finchel;J. Mee;W. Kemp;Richard Netzer;Donald Elkins;B. Zufelt;D. Alexander

文献摘要

被引文献

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立方体卫星对于太空研究越来越重要。它们的低轨道和短任务持续时间允许使用具有适度辐射故障阈值的电子设备。给出了对 CubeSat 应用感兴趣的微电子学的总电离剂量辐照结果。
CubeSats are increasingly important for space research. Their low orbits and short mission durations permit using electronics with modest radiation failure thresholds. Total ionizing dose irradiation results are presented for microelectronics interesting for CubeSat applications.