S.Shingubara,Y.Nakasaki,and H.Kaneko.: "Electromigration in a Single Crystalline Submicron Width Aluminum Interconnection" Appl.Phys.Lett.58. 42-44 (1991)
S.Shingubara,Y.Nakasaki,and H.Kaneko.: "Electromigration in a Single Crystalline Submicron Width Aluminum Interconnection" Appl.Phys.Lett.58. 42-44 (1991)
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S.Shingubara、Y.Nakasaki 和 H.Kaneko.：“单晶亚微米宽度铝互连中的电迁移”Appl.Phys.Lett.58。
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