A Solution-TiO2 Interface Probed by Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy"
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通过调频原子力显微镜探测溶液-TiO2 界面"
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and H. Yamada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Hiasa;K. Kimura;H. Onishi;M. Ohta;K. Watanabe;R. Kokawa;N. Oyabu. K. Kobavashi;and H. Yamada
