二軸傾斜を備えたTEMホルダー開発とSiナノインデンテーション観察
二軸傾斜を備えたTEMホルダー開発とSiナノインデンテーション観察
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开发具有双轴倾斜和硅纳米压痕观察功能的TEM支架
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
大島 義文
中科院分区：
文献类型：
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作者：
陳 桐民;大島 義文
