SQUIDを用いた電流路内欠陥の非破壊検出
SQUIDを用いた電流路内欠陥の非破壊検出
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使用 SQUID 无损检测电流路径中的缺陷
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
藤本 高志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Shiozawa;Y. Nakai;Y. Eijima;藤本 高志;中山 且;藤本 高志
