K. SASJIMA, K. NAOI and T. TSUKADA: "An Evaluation of Surface Asperity Profile changes in Truncation Processes Using Optical Interferometric Microscope"Proc. of 8th Int. Conf. on Metrology and Properties of Engineering Surfaces (Huddersfield). (2000)
K. SASJIMA, K. NAOI and T. TSUKADA: "An Evaluation of Surface Asperity Profile changes in Truncation Processes Using Optical Interferometric Microscope"Proc. of 8th Int. Conf. on Metrology and Properties of Engineering Surfaces (Huddersfield). (2000)
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K. SASJIMA、K. NAOI 和 T. TSUKADA：“使用光学干涉显微镜评估截断过程中的表面凹凸轮廓变化”Proc。
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