Kazuhiko Sasagawa: "Prediction of electromigration failure in passivated polycrystalline line considering passivation thickness"Proc.of InterPACK '03. InterPack2003-35065 (2003)
Kazuhiko Sasagawa: "Prediction of electromigration failure in passivated polycrystalline line considering passivation thickness"Proc.of InterPACK '03. InterPack2003-35065 (2003)
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Kazuhiko Sasakawa：“考虑钝化厚度的钝化多晶线电迁移故障的预测”Proc.of InterPACK 03。
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