Reliability of Orientational Order Parameters Determined from Two-dimensional X-ray Diffraction Patterns: A Simulation Study.
Reliability of Orientational Order Parameters Determined from Two-dimensional X-ray Diffraction Patterns: A Simulation Study.
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从二维 X 射线衍射图确定的取向序参数的可靠性：模拟研究
DOI：
10.1002/cphc.201600050
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
F. Giesselmann
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
F. Jenz;S. Jagiella;M. A. Glaser;F. Giesselmann
取向有序参数是描述液晶长程取向有序程度的重要参量之一。实验测量液晶相的序参量有几种方法，但每种方法都有大量的简化和假设。我们提出了一种基于模拟的方法来阐明Davidson， Petermann和Levelut通过二维X射线实验测量方法的可靠性。我们发现这种方法的绝对值仅略低于0.05，因此提供了可靠的X射线衍射测量。
The orientational order parameter is one of the most important quantities to describe the degree of long‐range orientational ordering of liquid crystals. There are several approaches to experimentally measure this order parameter of liquid crystalline phases but every method includes substantial simplifications and assumptions. We present a simulation‐based approach to elucidate the reliability of the method of Davidson, Petermann and Levelut to measure via 2D X‐ray experiments. We have found that this method slightly underestimates by an absolute value of only 0.05 and thus provides reliable measures of by X‐ray diffraction.
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