M.Owari,H.Satoh,B.Tomiyasu,Y.Nihei:"Micro Cross-Sectioning and Multielement Parallel Mapping of Microstructures by Gallium Focused Ion" Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS VIII. 545-548 (1992)
M.Owari,H.Satoh,B.Tomiyasu,Y.Nihei:"Micro Cross-Sectioning and Multielement Parallel Mapping of Microstructures by Gallium Focused Ion" Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS VIII. 545-548 (1992)
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M.Owari，H.Satoh，B.Tomiyasu，Y.Nihei：“镓聚焦离子显微结构的微观横截面和多元素平行映射”二次离子质谱SIMS VIII。
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