Ge標的へのMeV陽子線照射で発生した準単色X線を用いた文化財試料中のCuの低線量XRF分析
Ge標的へのMeV陽子線照射で発生した準単色X線を用いた文化財試料中のCuの低線量XRF分析
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使用 MeV 质子束照射 Ge 靶产生的准单色 X 射线对文化财产样品中的 Cu 进行低剂量 XRF 分析
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小栗慶之，長谷川 純，福田一志，羽倉尚人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Matsumura;H.;Shinoda;K.;Shimanjuntak;T.;Oktaviana;A.A.;Noerwidi;S.;Sofian;H.O.;Prastiningtyas;D.;Nguyen;L.C. Kakuda;T.;Kanzawa-Kiriyama;H.;Adachi;N.;Hung;HC.;Fan;X.;Wu;X.;Willis;A.;Oxenham;M.F.;小栗慶之，長谷川 純，福田一志，羽倉尚人
