An Implementation of Self-Testable Layout-Level Scan C-element
An Implementation of Self-Testable Layout-Level Scan C-element
复制标题
可自测试的布局级扫描 C 元素的实现
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroshi Iwata and Ken'ichi Yamaguchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kokoro Yamasaki;Hiroshi Iwata and Ken'ichi Yamaguchi
