電子顕微鏡法によるシリカメソ多孔体の構造解析
電子顕微鏡法によるシリカメソ多孔体の構造解析
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使用电子显微镜对介孔二氧化硅进行结构分析
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
阪本康弘
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Miyasaka;A. E. Garcia-Bennett;L. Han;Y. Han;C. Xiao;N. Fujita;T. Castle;Y. Sakamoto;S. Che;O. Terasaki;阪本康弘
