Ultra-Low Frequency SERS Spectroscopy for Characterizing and Controlling Metal/Molecule Junctions
Ultra-Low Frequency SERS Spectroscopy for Characterizing and Controlling Metal/Molecule Junctions
复制标题
用于表征和控制金属/分子结的超低频 SERS 光谱
DOI：
--
复制
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Katsuyoshi Ikeda
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Tomoaki Oga;Shiori Yamada;Naho Kaneko;Satoru Kaneko;Akifumi Matsuda;and Mamoru Yoshimoto;Katsuyoshi Ikeda
