Y. Hijikata et al.: "Photoemission Spectroscopy and In-Situ Spectroscopic Ellipsometry Studies on the Ar Post-Oxidation Annealing Effects of Oxide/SiC Interfaces"Proc. 1st Asia-Pacific Workshop on Widegap Semiconductors. 127-132 (2003)
Y. Hijikata et al.: "Photoemission Spectroscopy and In-Situ Spectroscopic Ellipsometry Studies on the Ar Post-Oxidation Annealing Effects of Oxide/SiC Interfaces"Proc. 1st Asia-Pacific Workshop on Widegap Semiconductors. 127-132 (2003)
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Y. Hijikata 等人：“氧化物/SiC 界面的 Ar 氧化后退火效应的光电发射光谱和原位光谱椭圆光度研究”Proc。
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