Measurement of reaction current during atomic force microscope local oxidation of conductive surfaces capped with insulating layers
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复制标题
原子力显微镜对覆盖绝缘层的导电表面局部氧化反应电流的测量
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Yamada an J. Shirakashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Shimada;T. Yamada an J. Shirakashi
