Kelvin probe force microscopy for the nano scale characterization of chalcopyrite solar cell materials and devices
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DOI：
10.1016/s0040-6090(03)00267-0
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发表时间：
2003-05
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
S. Sadewasser;T. Glatzel;S. Schuler;S. Nishiwaki;R. Kaigawa;M. Lux‐Steiner
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Sadewasser;T. Glatzel;S. Schuler;S. Nishiwaki;R. Kaigawa;M. Lux‐Steiner
