Final Test at Surface of the ATLAS Endcap Muon Trigger Chamber Electronics
Final Test at Surface of the ATLAS Endcap Muon Trigger Chamber Electronics
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ATLAS 端盖 Mu 子触发室电子设备表面的最终测试
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Kubota
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Okumura;Yasuyuki;S.Tsuno;S. Tsuno;高橋 悠太;小曽根 健嗣;津野 総司;道前 武;H.Iwasaki;O.Jinnouchi;O. Jinnouchi;S. Mima;Y. Ikegami;H. Ohshita;T. Sugimoto;T. Kubota
