Confinement of enhanced field investigated by tip-sample regulation in tapping-mode tip-enhanced Raman microscopy
Confinement of enhanced field investigated by tip-sample regulation in tapping-mode tip-enhanced Raman microscopy
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在轻敲模式尖端增强拉曼显微镜中通过尖端样品调节研究增强场的限制
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Taka-aki Yano;et al.
