C.Oshima: "Characterization of ultra thin films by High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy" J.Surface Analysis. 3. 322-327 (1997)
C.Oshima: "Characterization of ultra thin films by High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy" J.Surface Analysis. 3. 322-327 (1997)
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C.Oshima：“通过高分辨率电子能量损失光谱表征超薄膜”J.Surface Analysis。
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