ピクセル型STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による強誘電体の局所構造解析
ピクセル型STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による強誘電体の局所構造解析
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使用像素型 STEM 探测器通过 STEM-CBED 方法分析铁电材料的局部结构
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐川隆亮，橋口裕樹，近藤行人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
津田健治;佐川隆亮，橋口裕樹，近藤行人
