True density of nanoporous carbon fabricated from rice husk
True density of nanoporous carbon fabricated from rice husk
复制标题
稻壳纳米多孔碳的真实密度
DOI：
10.1016/j.measurement.2020.108627
复制
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
5.6
通讯作者：
Saitoh Hidetoshi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zhu Jie;Komatsu Keiji;Li Heng;Kudo Yuto;Okuda Rui;Ishibashi Yoshikuni;Yamada Takumi;Toda Ikumi;Ohshio Shigeo;Tuda Yoshinori;Saitoh Hidetoshi
由于纳米孔碳材料对氦的吸附作用，其真实密度的准确估计是研究纳米孔碳材料的一个基本问题。在这项研究中，我们开发了一种基于气体等体积膨胀法测量稻壳制作的NPC真密度的方法。该方法考虑了npc对氦的吸附。结果表明，以比表面积为2986 m2/g的稻壳为原料制备的NPC，其真密度为2.095 g/cm3。相比之下，使用商业氦取代法，测得的真实密度为2.437 g/cm3。所提方法的平均标准差值为0.015 ~ 0.027，而商业化氦取代法的平均标准差值为0.024 ~ 0.138。结果表明，该方法可准确测定非甾体的真实密度。
The accurate estimation of true density is a fundamental problem for nanoporous carbon (NPC) materials because of helium adsorption. In this study, we developed a method for measuring the true density of NPC fabricated from rice husks based on a gas constant-volume expansion method. The proposed method considers helium adsorption on NPCs. The obtained results indicated that NPC fabricated from rice husk with a 2986 m2/g specific surface area has a true density of 2.095 g/cm3as determined by the proposed method. In contrast, using the commercial helium-substituted method, the true density was measured as 2.437 g/cm3. The average standard deviation values using the proposed method were 0.015–0.027, whereas those using the commercial helium-substituted method were 0.024–0.138. These results indicated that accurate determination of the true density of NPCs was accomplished by the proposed method.
登录
查看更多内容
影响因子：
0.2
作者：
Shigeru Sato;M. Tamura;K. Miyazaki
通讯作者：
K. Miyazaki
167. 无定形碳
DOI：
10.1039/jr9520000923
发表时间：
1952
期刊：
Journal of The Chemical Society (resumed)
影响因子：
--
作者：
T. D. Smith
通讯作者：
T. D. Smith
测量方法和水分含量对小麦籽粒密度测量的影响
影响因子：
4.6
作者：
C. Fang;G. Campbell
通讯作者：
G. Campbell
影响因子：
3.9
作者：
E. W. Washburn;E. N. Bunting
通讯作者：
E. N. Bunting
影响因子：
1.5
作者：
Tomokazu Takahata;I. Toda;Hiroki Ono;S. Ohshio;H. Akasaka;S. Himeno;T. Kokubu;H. Saitoh
通讯作者：
Tomokazu Takahata;I. Toda;Hiroki Ono;S. Ohshio;H. Akasaka;S. Himeno;T. Kokubu;H. Saitoh