Local optical characterization related to Si cluster concentration in Ga As using scanning tunneling microscope cathodoluminescence spectroscopy
Local optical characterization related to Si cluster concentration in Ga As using scanning tunneling microscope cathodoluminescence spectroscopy
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使用扫描隧道显微镜阴极发光光谱法进行与 Ga As 中 Si 簇浓度相关的局部光学表征
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and M. Ichikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Watanabe;Y. Nakamura;and M. Ichikawa
