Influence of deposition conditions of La-doped YbBa2Cu3Oy upper layers on electrical properties of interface-modified ramp-edge junction
Influence of deposition conditions of La-doped YbBa2Cu3Oy upper layers on electrical properties of interface-modified ramp-edge junction
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La掺杂YbBa2Cu3Oy上层沉积条件对界面改性斜坡边缘结电性能的影响
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Tanabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Wakana;S. Adachi;M. Horibe;Y. Ishimaru;O. Horibe;Y. Tarutani;K. Tanabe
