巨陽(金子祐二,坂真澄,阿部博之): "マイクロ波イメージングによる誘電体材料部分の欠陥の非破壊評価"非破壊検査. 49・2. 121-126 (2000)
巨陽(金子祐二,坂真澄,阿部博之): "マイクロ波イメージングによる誘電体材料部分の欠陥の非破壊評価"非破壊検査. 49・2. 121-126 (2000)
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Kyoyo（Yuji Kaneko、Masumi Saka、Hiroyuki Abe）：“使用微波成像对介电材料部件中的缺陷进行无损评估”49・2（2000）。
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