Surface Depth Analysis for Fluorinated Block Copolymer Films by X-ray Photoelectron Spectroscopy Using C60 Cluster Ion Beam
Surface Depth Analysis for Fluorinated Block Copolymer Films by X-ray Photoelectron Spectroscopy Using C60 Cluster Ion Beam
复制标题
使用 C60 簇离子束通过 X 射线光电子能谱分析氟化嵌段共聚物薄膜
DOI：
--
复制
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
A. Takahara
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Tanaka;N. Sanada;M. Hikita;T. Nakamura;T. Kajiyama;A. Takahara
