Structural and electrical characterization of pentacene films on SiO2 grown by molecular beam deposition
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DOI：
10.1016/j.tsf.2004.06.065
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发表时间：
2004-10
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
Hirotomo Yanagisawa;T. Tamaki;M. Nakamura;K. Kudo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hirotomo Yanagisawa;T. Tamaki;M. Nakamura;K. Kudo
