Contrast analysis of dislocation images in TEM-Cathodoluminescene technique

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TEM-阴极发光技术位错图像的对比分析

DOI:
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发表时间:
2005
期刊:
J.Elect.Microscopy 54
影响因子:
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通讯作者:
T.Mukai
T.Mukai
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
D.Nakaji;V.Grillo;N.Yamamoto;T.Mukai

文献摘要

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