Characterization of Superconducting Thin Films by Scanning SQUID Microscopy
Characterization of Superconducting Thin Films by Scanning SQUID Microscopy
复制标题
通过扫描 SQUID 显微镜表征超导薄膜
DOI：
10.1541/ieejsmas.133.312
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发表时间：
2013
影响因子：
--
通讯作者：
A. Ishii
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Arisawa;K. Yun;K. Mochiduki;I. Iguchi;T. Hatano;H.B. Wang;A. Ishii
