High-efficiency detection of free carriers via Auger ionization in wide-gap semiconductors
High-efficiency detection of free carriers via Auger ionization in wide-gap semiconductors
复制标题
通过俄歇电离在宽禁带半导体中高效检测自由载流子
DOI：
--
复制
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Nobuko Naka and Ikuko Akimoto
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
I. Akimoto;Y. Handa;K. Fukai;and N. Naka;Nobuko Naka and Ikuko Akimoto
