Atsushi Murakami: "Selection of Potentially Testable Path Delay Faults for Test Generation"IEEE International Test Conference. 376-384 (2000)
Atsushi Murakami: "Selection of Potentially Testable Path Delay Faults for Test Generation"IEEE International Test Conference. 376-384 (2000)
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Atsushi Murakami：“选择用于测试生成的潜在可测试路径延迟故障”IEEE 国际测试会议。
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