Impact of Work Function Optimized S/D Silicide Contact for High Current Drivability CMOS

Impact of Work Function Optimized S/D Silicide Contact for High Current Drivability CMOS
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功函数优化的 S/D 硅化物接触对高电流驱动能力 CMOS 的影响

DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
ECS Trans.
影响因子:
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通讯作者:
and T. Ohmi
and T. Ohmi
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Y. Yukihisa;R. Kuroda;H. Tanaka;T. Isogai;A. Teramoto;S. Sugawa;and T. Ohmi

文献摘要

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