欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法
欠陥検出確率を利用した2パターンテスト生成法
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使用缺陷检测概率的双模式测试生成方法
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
古谷博司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
高橋寛;樋上喜信;古谷博司
