Probing EWIMPs with Drell-Yan process at 100 TeV colliders
Probing EWIMPs with Drell-Yan process at 100 TeV colliders
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在 100 TeV 对撞机上使用 Drell-Yan 工艺探测 EWIMP
DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Yohei Ema
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Ema Yohei;Kitano Ryuichiro;Terada Takahiro;Yohei Ema
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DOI:
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发表时间:
2016
期刊:
影响因子:
--
作者:
C. Gross;O. Lebedev;J. No
通讯作者:
J. No
影响因子:
4.4
作者:
J. Hisano;Koji Ishiwata;N. Nagata
通讯作者:
J. Hisano;Koji Ishiwata;N. Nagata
影响因子:
4.4
作者:
M. Ibe;S. Matsumoto;R. Sato
通讯作者:
M. Ibe;S. Matsumoto;R. Sato
影响因子:
8.6
作者:
Akerib, D. S.;Alsum, S.;Zhang, C.
通讯作者:
Zhang, C.
影响因子:
6.4
作者:
G. Gómez;M. Sánchez;Ji;M. Peiró;F. Prada;A. Morselli;A. Klypin;D. Cerdeño;Y. Mambrini;C. Muñoz
通讯作者:
C. Muñoz