Theoretical models for surface forces and adhesion and their measurement using atomic force microscopy.
Theoretical models for surface forces and adhesion and their measurement using atomic force microscopy.
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使用原子力显微镜进行表面力和粘附的理论模型及其测量。
DOI：
10.3390/ijms131012773
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发表时间：
2012-10-08
影响因子：
5.6
通讯作者：
Oliveira ON
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Leite FL;Bueno CC;Da Róz AL;Ziemath EC;Oliveira ON
对软物质及其对新技术，包括与纳米技术相关的新技术的影响的研究日益重要，这使得分子间力和表面力成为物理学和材料科学的前沿，因为这些是微和纳米系统中的主导力。通过原子力光谱（AFS）等实验方法，现在可以精确测量这些力，此外还可以提供有关局部材料特性（如弹性，硬度和粘附力）的信息。本文综述了原子荧光光谱的理论和实验背景，空气、真空和溶液中的粘附力、分子间相互作用和表面力。
The increasing importance of studies on soft matter and their impact on new technologies, including those associated with nanotechnology, has brought intermolecular and surface forces to the forefront of physics and materials science, for these are the prevailing forces in micro and nanosystems. With experimental methods such as the atomic force spectroscopy (AFS), it is now possible to measure these forces accurately, in addition to providing information on local material properties such as elasticity, hardness and adhesion. This review provides the theoretical and experimental background of AFS, adhesion forces, intermolecular interactions and surface forces in air, vacuum and in solution.
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