Low-energy mass-selected ion beam deposition of silicon carbide with Bernas-type ion source using methylsilane

Low-energy mass-selected ion beam deposition of silicon carbide with Bernas-type ion source using methylsilane
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使用甲基硅烷的伯纳斯型离子源低能质量选择离子束沉积碳化硅

DOI:
10.1063/1.5116614
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发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
1.6
通讯作者:
M. Kiuchi
M. Kiuchi
中科院分区:
材料科学4区
文献类型:
--
作者:
S. Yoshimura;S. Sugimoto;T. Takeuchi;K. Murai;M. Kiuchi

文献摘要

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