High Resolution Fractionation by Two-Step Isoelectric Focusing in Micro Chamber Array Chip

High Resolution Fractionation by Two-Step Isoelectric Focusing in Micro Chamber Array Chip
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微室阵列芯片中两步等电聚焦的高分辨率分级

DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
Proceedings of Micro Total Analysis System (μTAS)
影响因子：
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通讯作者：
K.Shimura
K.Shimura
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
R.Ishibashi;T.Kitamori;K.Shimura

文献摘要

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