A versatile and highly reliable method to identify genes responsible for mutations caused by highly active transposable elements
A versatile and highly reliable method to identify genes responsible for mutations caused by highly active transposable elements
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一种通用且高度可靠的方法，用于识别与高活性转座元件引起的突变有关的基因
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. and K. Takagi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Nishijima;T. and K. Takagi
