Seiji Takeuchi: "A New Ellipsametric Approach to CD Metrdogy Utilizing Form Birefringence" Japanese Journal of Applied Physics. 36-1-12B. 7720-7725 (1997)
Seiji Takeuchi: "A New Ellipsametric Approach to CD Metrdogy Utilizing Form Birefringence" Japanese Journal of Applied Physics. 36-1-12B. 7720-7725 (1997)
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Seiji Takeuchi：“利用形式双折射进行 CD 测量的新椭圆测量方法”日本应用物理学杂志。
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