回転補償子法を用いた垂直観測型エリプソメトリー顕微鏡によるナノすきまの定量化

回転補償子法を用いた垂直観測型エリプソメトリー顕微鏡によるナノすきまの定量化
复制标题

使用旋转补偿器法使用垂直观察椭圆偏振显微镜量化纳米间隙

DOI:
--
复制
发表时间:
2017
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
難波克也,笹尾優介,福澤健二,伊藤伸太郎,張賀東
難波克也,笹尾優介,福澤健二,伊藤伸太郎,張賀東
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
A. Saito;Y. Yamazaki;Y. Watanabe;M. N. I. Shiblee;A. Khosla;J. Ogawa;M. Kawakami;and H. Furukawa;梶 弘典;難波克也,笹尾優介,福澤健二,伊藤伸太郎,張賀東

文献摘要

相似文献