Frequency-comb-based Interference Microscope with a Line-type Image Sensor

Frequency-comb-based Interference Microscope with a Line-type Image Sensor
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带有线型图像传感器的频梳干涉显微镜

DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
Japanese Journal of Applied Physics 46
影响因子：
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通讯作者：
and T. Kurokawa
and T. Kurokawa
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
S. Choi;T. Shioda;Y. Tanaka;and T. Kurokawa

文献摘要

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