Pattern Generation for Locating Logic Design Errors

Pattern Generation for Locating Logic Design Errors
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用于定位逻辑设计错误的模式生成

DOI：
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发表时间：
1994
期刊：
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
影响因子：
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通讯作者：
K. Hirano
K. Hirano
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
M. Tomita;N. Suganuma;K. Hirano

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