T.Miyatani, M.Fujihira: "Calibration of Surface Stress Measurements with Atomic Force Microscopy" J.Appl.Phys.81. 7099-7115 (1997)
T.Miyatani, M.Fujihira: "Calibration of Surface Stress Measurements with Atomic Force Microscopy" J.Appl.Phys.81. 7099-7115 (1997)
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T.Miyatani、M.Fujihira：“用原子力显微镜校准表面应力测量”J.Appl.Phys.81。
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