Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization
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复制标题
工业应用的扫描探针显微镜：纳米力学表征
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yablon, Dalia G.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yablon, Dalia G.
