Critical Thickness of Antiferromagnetic Layer in Exchange Biasing Bilayer System
Critical Thickness of Antiferromagnetic Layer in Exchange Biasing Bilayer System
复制标题
交换偏置双层系统中反铁磁层的临界厚度
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and M. Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Mitsumata;A. Sakuma;K. Fukamichi;M. Tsunoda;and M. Takahashi
