Characterization of flatband voltage roll-off and roll-up behavior in La_2 O_3/silicate gate dielectric
Characterization of flatband voltage roll-off and roll-up behavior in La_2 O_3/silicate gate dielectric
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La_2 O_3/硅酸盐栅介质中平带电压滚降和滚升行为的表征
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Kakushima;et al.
