Lot Temperature X-ray Diffraction Study of ZnCr2O4 and Ni0. 5Zn0. 5Cr2O4

Lot Temperature X-ray Diffraction Study of ZnCr2O4 and Ni0. 5Zn0. 5Cr2O4
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ZnCr2O4 和 Ni0 的批量温度 X 射线衍射研究。

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
J. Lot Temp. Phys. 151
影响因子:
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通讯作者:
Yoshihiro tino
Yoshihiro tino
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Yun Xue;Shumsun Naher;tumiaki Hata;Hiroshi taneko;Haruhiko Suzuki;Yoshihiro tino

文献摘要

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