Depth-resolved XMCD application to Fe/Ni/Cu(001) films
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复制标题
深度分辨 XMCD 在 Fe/Ni/Cu(001) 薄膜中的应用
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Ohta
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Abe;K.Amemiya;D.Matsumura;T.Ohtsuki;E.Sakai;T.Yokoyama;T.Ohta
